發(fā)布時(shí)間：2021-05 人氣：30 來源：宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備
4.12.滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) | GB/T2423.1-2008 試驗(yàn)A:低溫(部份) GB/T2423.2-2008 試驗(yàn)B:高溫 (部份) GB/T2423.3-2008 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱 GB/T2423.4-2006 試驗(yàn)Db:交變濕熱 GB/T2423.34-2005 試驗(yàn)Z/AD:溫濕組合 GB/T2424.2—2005 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則 GB/T2423.22—2002 試驗(yàn)N：溫度變化。 GJB 150.3-2009 高溫試驗(yàn) GJB 150.4-2009 低溫試驗(yàn) GJB 150.9-2009 濕熱試驗(yàn) GJB 899-1990 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn) GJB 899A-2009 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn) |
4.13.產(chǎn)品制造標(biāo)準(zhǔn) | GB/T10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則 GB/T5170.2 基本參數(shù)檢定方法 GB-T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備 |
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