發(fā)布時(shí)間:2022-03 人氣:24 來(lái)源:宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備
電子電器產(chǎn)品的高低溫測(cè)試分為高低溫存儲(chǔ)測(cè)試和高低溫運(yùn)行測(cè)試。
高低溫存儲(chǔ)是產(chǎn)品不上電,在非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。
低溫運(yùn)行是給產(chǎn)品供電,在產(chǎn)品工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。
電子電器產(chǎn)品高低溫測(cè)試需要用帶有加熱和制冷功能的可編程高低溫測(cè)試箱進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試過(guò)程如下:
1、測(cè)試前先檢查測(cè)試樣品的狀態(tài),外觀、功能、性能等是否正常,并拍照;
2、將樣品放入高低溫箱中,設(shè)置溫度箱的高溫、低溫值及各自保持的時(shí)間、變溫的時(shí)間、周期數(shù)。比如高溫70°C下保持2小時(shí),然后從70°C半小時(shí)內(nèi)降到低溫-20°C,保持2小時(shí),再?gòu)?20°C半小時(shí)內(nèi)升溫到70°C。如此循環(huán),測(cè)試20個(gè)循環(huán)。
3、測(cè)完后,拿出樣品,檢查測(cè)試后樣品的外觀、功能、性能等。
4、如發(fā)現(xiàn)樣品跟測(cè)試前相比無(wú)明顯變化,或者變化在所定的標(biāo)準(zhǔn)范圍之類,則表示測(cè)試樣品的抗高低溫循環(huán)性能符合要求,否則為不符合。
高低溫測(cè)試對(duì)測(cè)試的具體溫度、高溫和低溫各自保持的時(shí)間、升溫和降溫的時(shí)間、測(cè)多少個(gè)周期等沒(méi)有固定的標(biāo)準(zhǔn),委托方可以自己制定企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn),或按客戶要求制定測(cè)試條件。
制定測(cè)試條件時(shí)可參考產(chǎn)品實(shí)際的存儲(chǔ)環(huán)境、運(yùn)輸環(huán)境及使用環(huán)境等。常做的溫度是-30至70°C,溫度保持時(shí)間2小時(shí)至8小時(shí)不等,變溫時(shí)長(zhǎng)一般半小時(shí)以內(nèi),循環(huán)周期4至20個(gè)周期不等。